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LCR測试
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選择測试夾具和(hé)選择合适的(de)測试设備一(yī)樣(yàng)重(zhòng)要(yào)。是(shì)德科技提(tí)供大(dà) 量(liàng)附件(jiàn)，用(yòng)于(yú)轴向(xiàng)、徑向(xiàng)和(hé)SMD/片状器件(jiàn)的(de)測试。此(cǐ)外(wài)，是(shì)德 科技還(huán)提(tí)供了(le)各(gè)種(zhǒng)測试延长(cháng)電(diàn)缆(lǎn)，用(yòng)来(lái)簡化(huà)遠(yuǎn)程測试和(hé)系統應(yìng) 用(yòng)，以(yǐ)及(jí)带(dài)有(yǒu)保護罩的(de)外(wài)部(bù)測试夾具。 合适的(de)測试夾具，可(kě)以(yǐ)從以(yǐ)下(xià)几方(fāng)面(miàn)改善您的(de)測量(liàng)結果：更可(kě)靠和(hé)可(kě)重(zhòng)複的(de)測量(liàng)結果 ；更高(gāo)的(de)測试吞吐量(liàng)；更少(shǎo)的(de)操作(zuò)錯誤；更嚴格地(dì)滿足測试指标(biāo)的(de)限制；更高(gāo)的(de)測量(liàng)精度(dù)。…
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